Seperti di universitas-universitas lainnya, setiap ada mahasiswa yang akan lulus, pasti si mahasiswa tersebut harus menghadapi sidang. Just like what i did two days ago.  Sejak sebelum puasa saya sudah tahu bahwa jadwal sidang saya memang sekitar tanggal 20 september. Awalnya, saya mengajukan jadwal sidang tanggal 15 september, 1 minggu sebelumnya. Tapi ditolak. Karena jadwal sidang dari fakultas untuk bulan september baru dimulai dari tanggal 19 september. Akibatnya, jadwal saya diundur seminggu sesudahnya, menjadi tanggal 22 September. Jika ditanya bagaimana perasaan saya ketika menunggu hari sidang saya. Jelas, sudah pasti saya deg-degan. Saya cemas, secemas-cemasnya. Kalau masalah belajar, sudah dari jauh-jauh hari sebenarnya saya sudah membaca beragam jurnal yang menumpuk di folder Tugas Akhir saya (yang akhirnya kebaca juga). Tapi saya sama sekali belum siap kalau ditanya mengenai hal-hal di luar TA saya. Maksudnya, hal-hal umum mengenai kuliah saya di Teknik Material. Maka dari itulah, sebelum sidang saya belajar hal-hal yang kira-kira akan dijadikan pertanyaan dari dosen penguji (tentunya dengan referensi teman yang sudah sidang dengan bapak-bapak dosen penguji yang akan menguji saya).

Dosen pembimbing, ayah dan ibu saya cemas kalau-kalau saya tidak bisa tidur di malam hari sebelum saya sidang. Jujur, saya malah jauh lebih nyenyak tidur di Rabu malam ketimbang di Kamis malam ketika saya sudah selesai sidang.

Scanning Electron Microscopy (SEM)

Ini adalaha tulisan dari skripsi saya. Sudah lama sebenarnya saya ingin nge-post ini, tapi baru sekarang saya post. Tulisan ini berdasarkan banyak sumber

SEM merupakan salah satu metode karakterisasi yang digunakan untuk melihat topografi permukaan dari suatu material. Perbesaran dari SEM bisa mencapai 300.000 kali. Material yang dapat diuji dengan menggunakan SEM hanyalah material padat. Untuk material padat konduktif, tidak ada preparasi khusus yang dilakukan, hanya persiapan metalografi standar seperti dipolish dan dietsa. Sedangkan untuk material non konduktif, material tersebut harus dilapis dengan emas atau karbon supaya terbentuk lapisan tipis yang konduktif.

 Skema SEM (http://www.purdue.edu/rem/rs/sem.htm)

Prinsip utama dari SEM adalah menggunakan electron beam yang ditembakkan ke spesimen yang akan menyebabkan terjadinya interaksi antara elektron yang ditembakkan (elektron primer) dengan elektron yang ada pada spesimen. Electron gun yang dilengkapi dengan filamen tungsten (6-12 V DC) akan menghasilkan electron beam. Akibat adanya beda potensial (1-30 kV) maka elektron akan menumbuk spesimen. Lensa elektromagnetik berfungsi untuk memfokuskan electron beam tersebut agar tepat menuju spesimen. Ketika electron beam menumbuk spesimen maka akan terjadi interaksi elektron yang akan menghasilkan: